檢索結果:共2筆資料 檢索策略: "Machine Learning".ekeyword (精準) and cadvisor.raw="陳勇志"
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在使用商業軟體進行動態電壓降 (Dynamic IR drop) 分析時非常地耗時, 而在實際應用中,需要大量的測試向量來驗證電路的電源完整性。在這篇 論文中,我們提出了一種基於機器學習 (Mach…
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由於製程的進步讓電晶體的面積越來越小,使得晶片上的電晶體數量呈現指數趨勢的成長,導致在進行電壓降分析時需要消耗大量的時間和資源。而近年來,機器學習發展十分迅速,有許多機器學習的方法被應用在預測電壓降…